篩分法是一種最傳統的碳化硅粒度測試方法。它是使顆粒通過(guò)不同尺寸的篩孔來(lái)測試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種形式，可以用單個(gè)篩子來(lái)控制單一粒徑碳化硅顆粒的通過(guò)率，也可以用多個(gè)篩子疊加起來(lái)同時(shí)測量多個(gè)粒徑顆粒的通過(guò)率，并計算出百分數。篩分法有手工篩、振動(dòng)篩、負壓篩、全自動(dòng)篩等多種方式。顆粒能否通過(guò)篩幾與顆粒的取向和篩分時(shí)間等素因素有關(guān)，不同的行業(yè)有各自的篩分方法標準。 4、電阻法： 電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個(gè)叫庫爾特的人發(fā)明的一種粒度測試方法。這種方法是根據碳化硅微粉在通過(guò)一個(gè)小微孔的瞬間，占據了小微孔中的部分空間而排開(kāi)了小微孔中的導電液體，使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。

　　當不同大小的粒徑顆粒連續通過(guò)小微孔時(shí)，小微孔的兩端將連續產(chǎn)生不同大小的電阻信號，通過(guò)計算機對這些電阻信號進(jìn)行處理就可以得到粒度分布了。